一、考試目的：

《商務(wù)與經(jīng)濟(jì)統(tǒng)計》作為全日制統(tǒng)計學(xué)專業(yè)碩士研究生復(fù)試考試科目，其目的是考察考生是否具備統(tǒng)計學(xué)的基本理論基礎(chǔ)水平和是否具備實(shí)際數(shù)據(jù)分析的能力。

二、考試性質(zhì)

本考試是一種測試應(yīng)試者理論掌握程度和實(shí)際運(yùn)用能力的綜合水平測試。

三、考試基本要求

要求考生比較系統(tǒng)地了解商務(wù)與經(jīng)濟(jì)統(tǒng)計的基礎(chǔ)知識和基本理論體系，包括參數(shù)與非參數(shù)的分析原理與方法。

四、考試形式。

閉卷

五、考試內(nèi)容：

（一）描述統(tǒng)計學(xué)的基礎(chǔ)與方法

考試內(nèi)容：

統(tǒng)計學(xué)的基本概念、數(shù)據(jù)匯總與圖表、集中趨勢、離散趨勢的測度與應(yīng)用

考試要求：

1、掌握平均數(shù)、眾數(shù)、中位數(shù)的計算與應(yīng)用

2、掌握方差與方差系數(shù)的計算與應(yīng)用

3、掌握統(tǒng)計匯總的基本程序與方法

（二）抽樣分布的相關(guān)理論與應(yīng)用

考試內(nèi)容:概率與抽樣分布理論，抽樣推斷及假設(shè)檢驗的應(yīng)用

考試要求：

1、深入理解抽樣分布的概念

2、能夠進(jìn)行的參數(shù)推斷。

3、對假設(shè)檢驗理論有深入理解，能夠進(jìn)行均值、比例、方差的假設(shè)檢驗

4、Z檢驗T檢驗和F檢驗的應(yīng)用條件和使用方法。

（三）擬合優(yōu)度和方差分析

考試內(nèi)容：

多項總體的擬合優(yōu)度檢驗、獨(dú)立性檢驗、多總體均值相等檢驗

考試要求：

1、能夠進(jìn)行多總體擬合優(yōu)度檢驗

2、理解方差分析原理

3、掌握K個總體均值相等檢驗

（四）回歸分析

考試內(nèi)容：一元線性回歸模型的建立與檢驗；多元線性回歸模型的建立與檢驗。

考試要求：

1、了解回歸分析的數(shù)據(jù)要求與應(yīng)用條件

2、掌握一元與多元線性回歸模型的建立與檢驗

（五）指數(shù)

考試內(nèi)容：指數(shù)的概念、編制、應(yīng)用

考試要求：

1、指數(shù)的概念

2、編制指數(shù)的兩大公式的計算與應(yīng)用

3、了解消費(fèi)價格指數(shù)、生產(chǎn)者價格指數(shù)、道瓊斯股價指數(shù)。

（六）預(yù)測

考試內(nèi)容：

時間序列的成分、時間序列的預(yù)測方法

考試要求：

1、時間序列包括的要素

2、移動平均、平滑法的使用

3、 季節(jié)指數(shù)的計算

（七）非參數(shù)統(tǒng)計

考試內(nèi)容：

符號檢驗、威爾克森符號秩檢驗、克魯斯卡爾-沃利斯檢驗

考試要求：

熟練使用符號檢驗、威爾克森符號秩檢驗、克魯斯卡爾-沃利斯檢驗

六、考試題型

簡答、計算和應(yīng)用

七、參考書目：《商務(wù)與經(jīng)濟(jì)統(tǒng)計》；機(jī)械工業(yè)出版社；戴維 R 安德森；丹尼斯 J 斯維尼；托馬斯 A 威廉斯著。原書第九版。

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