一、考試內(nèi)容

1．材料熱分析

（1）熱分析（熱重、差熱、示差掃描量熱分析）的基本原理

（2）材料的綜合（同步）熱分析

（3）熱分析在無機(jī)材料研究中的應(yīng)用

2．X射線衍射分析

（1）X射線的產(chǎn)生及特征X射線

（2）X射線的性質(zhì)及其與物質(zhì)的相互作用

（3）X射線衍射的原理及條件

（4）X射線衍射儀的基本構(gòu)成

（5）X射線衍射譜的幾何特征及其影響因素

（6）多晶X射線衍射物相定性和定量分析：原理和方法

（7）多晶樣品晶體點(diǎn)陣常數(shù)精確測定的基本原理和方法（一般性了解）

（8）謝樂公式法測定晶粒尺寸及方法的特點(diǎn)和局限性

3．電子顯微分析

（1）電子光學(xué)基礎(chǔ)

（2）透射電子顯微鏡的原理和性能

（3）透射電鏡（含高分辨透射電鏡）的成像原理

（4）電子衍射的原理、物質(zhì)聚集狀態(tài)對電子衍射譜的影響、電子衍射的應(yīng)用

（5）透射電鏡樣品的制備

（6）掃描電子顯微鏡的原理和性能

（7）二次電子像和背散射電子像的成像原理和特點(diǎn)

（8）掃描電鏡樣品的制備

（9）電子顯微分析方法在無機(jī)材料研究中的應(yīng)用

4．X射線顯微分析方法（電子探針微區(qū)成分分析）

（1）X射線微區(qū)成分分析的空間分辨率

（2）X射線能譜儀的原理和性能

（3）X射線波譜儀的原理和性能

（4）X射線微區(qū)成分定性和定量分析的原理

（5）X射線能譜和X射線波譜的比較

（6）X射線顯微分析方法在無機(jī)材料研究中的應(yīng)用

5．紅外光譜分析的基本原理及其在無機(jī)材料研究中的應(yīng)用

6．原子力顯微鏡的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

7．X射線光電子能譜分析的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

8．俄歇電子能譜分析的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

9．原子發(fā)射光譜和原子吸收光譜的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

10.無機(jī)材料研究方法的綜合運(yùn)用

二、考試題型

1. 填空題（共30分）

2. 問答題（共70分，個別題有可能涉及一些簡單的計算）

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